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  • HED-G5000全自動芯片ESD測試設備
    HED-G5000全自動芯片ESD測試設備

    Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備 近年來,自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前先進技術,解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性,保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準,而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試,其中一環節就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。

    更新時間:2024-06-12型號:HED-G5000訪問量:1451
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  • HANWA HCE-5000ESD測試機
    HANWA HCE-5000ESD測試機

    HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的生產過程中的質量保證都是不可少的。

    更新時間:2024-04-02型號:HANWA HCE-5000訪問量:1109
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  • HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備
    HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

    ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:1421
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  • HED-N5000 全自動ESD測試系統
    HED-N5000 全自動ESD測試系統

    HED-N5000 全自動ESD測試系統,ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的生產過程中的質量保證都是不可少的。

    更新時間:2024-06-13型號:訪問量:1168
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  • HED-W5100D   全自動晶圓ESD測試機
    HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機

    ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:2708
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  • HED-W5000M 晶圓ESD測試機
    HED-W5000M 晶圓ESD測試機

    ESD測試設備,ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

    更新時間:2024-04-29型號:訪問量:1580
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  • ZEISS 光學微光顯微鏡
    ZEISS 光學微光顯微鏡

    emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點:具有優化的操作理念。 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統。 基于“向前看”理念的升級設計。

    更新時間:2024-06-12型號:訪問量:889
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  • HANWA ESD測試全部設備簡介
    HANWA ESD測試全部設備簡介

    ESD測試設備,芯片ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

    更新時間:2024-04-29型號:訪問量:1593
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