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全自動芯片ESD測試設備

簡要描述:Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備
近年來,自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前先進技術,解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性,保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準,而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試,其中一環節就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。

  • 產品型號:HED-G5000
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-12
  • 訪  問  量:1451

詳細介紹

日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機

全自動芯片ESD測試設備產品概要:

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市,搭載多Pin腳無繼電器的GND模組(最高支持MAX2048pin),全不受寄生電容的影響,實現高精度檢測。此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 (滿足JEITA / ESDA / JEDEC規格)可用于閂鎖測試,并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標準,車規級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。

技術優勢:

1、適應以下國際標準波形: JEDEC,ESDA,AEC和JEITA。
2、該系統特別的短路放電電路可通過其原始機械設計實現。
3、短路最大限度地減少電感和電容對數據的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數據穩定性。

全自動芯片ESD測試設備主要應用:

芯片靜電破壞自動測定裝置。

全自動芯片ESD測試設備




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